A new built-in screening methodology to achieve zero defects in the automotive environment.

• Autores: V. Malandruccolo, M. Ciappa, H. Rothleiner, W. Fichtner
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1334-1340
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)