Reading distance degradation mechanisms of near-field RFID devices.

• Autores: P. Jacob, W. Knecht, A. Kunz, G. Nicoletti, T. Lautenschlager, M. Mondada, D. Pachoud
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1288-1292
• Idioma: inglés
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