Do ESD fails in systems correlate with IC ESD robustness?

• Autores: W. Stadler, T. Brodbeck, R. Gärtner, H. Gossner
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1079-1085
• Idioma: inglés
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