Process dependence of BTI reliability in advanced HK MG stacks.

• Autores: X. Garros, M. Casse, M. Rafik, C. Fenouillet-Béranger, G. Reimbold, Fernando Martín Rubio, C. Wiemer, F. Boulanger
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 982-988
• Idioma: inglés
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