Ensuring the reliability of electron beam crosslinked electric cables by the optimization of the dose depth distribution with Monte Carlo simulation.

• Autores: M. Ciappa, L. Mangiacapra, M. Stangoni, S. Ott, W. Fichtner
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 972-976
• Idioma: inglés
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