Fast reliability qualification of SiP products.

• Autores: C. Regard, C. Gautier, H. Frémont, P. Poirier, M.A. Xiaosong, K.M.B. Jansen
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 958-962
• Idioma: inglés
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