Estudio Mediante Tight-Binding y Método de Monte Carlo de las Pro-piedades Electrónicas de Si y Ge

• Autores: Diego A. Rasero, Tomás S. Suárez, Rosbel Jiménez, Jairo Arbey Rodríguez Martínez
• Localización: Revista de la Sociedad Colombiana de Física, ISSN-e 0120-2650, Vol. 41, Nº. 2, 2009, págs. 285-287
• Idioma: español
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