Lot cycle time prediction in a ramping-up semiconductor manufacturing factory with a SOM�FBPN-ensemble approach with multiple buckets and partial normalization.

• Autores: T. Chen, Y.-C. Wang, H.-R. Tsai
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 42, Nº. 11-12, 2009, págs. 1206-1216
• Idioma: inglés
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