A detailed study of current�voltage characteristics in Au/SiO2/n-GaAs in wide temperature range.

• Autores: H. Altuntas, S. Altindal, H. Shtrikman, S. Ozcelik
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 8, 2009, págs. 904-911
• Idioma: inglés
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