Prognostication of system-state in lead-free electronics equipment under cyclic and steady-state thermo-mechanical loads.

• Autores: P. Lall, M. Hande, C. Bhat, V. More, R. Vaidya
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 8, 2009, págs. 825-838
• Idioma: inglés
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