Stylus tip envelop method: corrected measured point determination in high definition coordinate metrology.

• Autores: A. Wozniak, J.R.R. Mayer, M. Balazinski
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 42, Nº. 5-6, 2009, págs. 505-514
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)