Machine fault diagnosis using a cluster-based wavelet feature extraction and probabilistic neural networks.

• Autores: G. Yu, C. Li, S. Kamarthi
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 42, Nº. 1-2, 2009, págs. 145-151
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)