Measurement System Analysis for Binary Data.

• Autores: Wessel N. van Wieringen, Jeroen de Mast
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 4, 2008, págs. 468-478
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)