Reliability assessment of 1.55-µm vertical cavity surface emitting lasers with tunnel junction using high-temperature aging tests.

• Autores: K.H. Rhew, S.C. Jeon, D.H. Lee, B.-S. Yoo, I. Yun
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 1, 2009, págs. 42-50
• Idioma: inglés
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