Planes de muestreo por atributos: un análisis de sensibilidad

• Autores: Carlos J. Pérez González, Arturo Javier Fernández Rodríguez
• Localización: Revista de la Academia Canaria de Ciencias: = Folia Canariensis Academiae Scientiarum, ISSN 1130-4723, Vol. 16, Nº. 1-2, 2004, págs. 29-38
• Idioma: español
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    Este artículo presenta un análisis de la sensibilidad frente a cambios en el tamaño muestral y el número de aceptación en los planes de muestreo de aceptación por atributos. Considerando que la distribución del número de unidades defectuosas en la muestra es binomial, deducimos las expresiones analíticas que describen esos cambios. Estas expresiones permiten estudiar el efecto sobre la forma de la curva característica asociada al plan de muestreo. El análisis también incluye resultados gráficos que proporcionan una mejor comprensión del funcionamiento de dichos planes con objeto de evaluar su robustez ante variaciones en los parámetros que determinan por completo el plan

  • English

    In this paper, a change sensitivity analysis concerning to sample size and acceptance nurnber of the attributives sarnpling plans is presented. Under the binomial assumption of the number of defectives in the sarnple, analytical equations t hat describe these changes are derived. These expressions are appliecl to study the modifications of the relative shape of the sarnpling plan's characteristic curve. Graphical results are also included, which yield a better comprehension about the performance of these plans with the proposal to evaluate their robustness to variations in the parameters that define the plan completely.