Aplicaciones a la metrología de los microscopios de campo cercano

• Autores: Arturo M. Baró, Hao Huang Wen, J.M. Gómez Rodríguez
• Localización: Metromática/91: V Congreso Internacional de Metrología Industrial, 13-15 noviembre 1991 Zaragoza (España) / coord. por Fernando Torres Leza, 1991, págs. 743-750
• Idioma: español
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