Desarrollo de un interferómetro Fizeau para metrología industrial de superficies

• Autores: Andrés Elías Feijoo Lorenzo, José Benito Vázquez Dorrío, Ángel Manuel Fernández Doval, Mariano Pérez-Martínez y Pérez-Amor, José Luis Fernández Fernández, Jesús Blanco García, Francisco Pino Perez, José Carlos López Vázquez
• Localización: Metromática/91: V Congreso Internacional de Metrología Industrial, 13-15 noviembre 1991 Zaragoza (España) / coord. por Fernando Torres Leza, 1991, págs. 327-338
• Idioma: español
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