Reliability and defectivity comparison of n- and p-channel SLS ELA polysilicon TFTs fabricated with a novel crystallization technique.

• Autores: D.C. Moschou, M.A. Exarchos, D.N. Kouvatsos, G.J. Papaioannou, A. Arapoyanni, A.T. Voutsas
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1544-1548
• Idioma: inglés
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