Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs.

• Autores: M. Sienkiewicz, P. Perdu, A. Firiti, K. Sanchez, O. Crepel, D. Lewis
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1529-1532
• Idioma: inglés
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