Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation.

• Autores: Y. Deshayes, I. Bord, G. Barreau, M. Aiche, P.H. Moretto, L. Béchou, A.C. Roehrig, Y. Ousten
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1354-1360
• Idioma: inglés
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