Timing analysis of scan design integrated circuits using stimulation by an infrared diode laser in externally triggered pulsing condition.

• Autores: T. Kiyan, C. Brillert, C. Boit
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1327-1332
• Idioma: inglés
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