Near-field detection of photon emission from silicon with 30 nm spatial resolution.

• Autores: D. Isakov, A.A.B. Tio, T. Geinzer, J.C.H. Phang, Y. Zhang, L.J. Balk
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1285-1288
• Idioma: inglés
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