Impact of bias condition on 1/f noise of dual-gate depletion type MOSFET in linear region and consequences for noise diagnostic application and modelling.

• Autores: M. Videnovic-Misic, M.M. Jevtic
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 7, 2008, págs. 1008-1014
• Idioma: inglés
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