Evaluation of conductive-to-resistive layers interaction in thick-film resistors.

• Autores: K. Mleczko, Z. Zawislak, A.W. Stadler, A. Kolek, A. Dziedzic, J. Cichosz
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 6, 2008, págs. 881-885
• Idioma: inglés
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