Modified Engelmaier¿s model taking account of different stress levels.

• Autores: O. Salmela, K. Andersson, A. Pettula, J. Särkkä, M. Tammenmaa
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 5, 2008, págs. 773-780
• Idioma: inglés
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