A SOM-FBPN-ensemble approach with error feedback to adjust classification for wafer-lot completion time prediction.

• Autores: T. Chen
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 37, Nº. 7-8, 2008, págs. 782-792
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)