A unification of interface-state generation and hole-injection for hot-carrier-injection stress in low and high-voltage NMOSFET.

• Autores: M. Z. Dai, S.I. Kim, Andrew Yap, S. Liu, A. Cheng, L. Yi
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 4, 2008, págs. 504-507
• Idioma: inglés
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