Atomic-scale finite-element model of tension in nanoscale thin film.

• Autores: J.-T. Chiu, Y.-Y. Lin, C.-L. Shen, S.-P. Lo, W.-J. Wu
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 37, Nº. 1-2, 2008, págs. 76-82
• Idioma: inglés
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