Design of due-date oriented look-ahead batching rule in wafer fabrication.

• Autores: D.Y. Sha, S.-Y. Hsu, X.D. Lai
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 35, Nº. 5-6, 2007, págs. 596-609
• Idioma: inglés
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