Metrología de alta precisión para grandes equipos científicos

• Autores: Michael Mayoud Cern
• Localización: Topografía y cartografía: Revista del Ilustre Colegio Oficial de Ingenieros Técnicos en Topografía, ISSN 0212-9280, Vol. 12, Nº 67, 1995, págs. 55-65
• Idioma: español
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