A dual burn-in policy for defect-tolerant memory products using the number of repairs as a quality indicator.

• Autores: S.-H. Tong, S.-H. Yum
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 3, 2008, págs. 471-480
• Idioma: inglés
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