A new electrothermal average model of the diode¿transistor switch.

• Autores: K. Górecki
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 1, 2008, págs. 51-58
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)