Errores accidentales en el DNA03 empleando mira estándar

• Autores: José Luis de la Cruz González, Juan José Ruiz Lendínez
• Localización: Mapping, ISSN 1131-9100, Nº 124, 2008, págs. 16-17
• Idioma: español
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• Resumen

  • El cálculo de los errores accidentales en niveles electrónicos, no se puede realizar de una manera tradicional. El nivel electrónico realiza la medición del desnivel de una forma ajena al operador. Esta forma de trabajo obliga a controlar el instrumento según la norma ISO 17123-2. El problema surge cuando la distancia de trabajo no coincide con la distancia especificada por la norma. En el presente trabajo se realiza un estudio de los resultados obtenidos aplicando el método de trabajo de la norma a distintas distancias, comparando resultados de los errores producidos.