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Fiabilidad de componentes electrónicos: La nueva RIAC-HDBK-217Plus

  • Autores: Jorge Marcos Acevedo, J. A. Martín, B. Galván
  • Localización: Mundo electrónico, ISSN 0300-3787, Nº 390, 2007, págs. 46-51
  • Idioma: español
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  • Resumen
    • En este artículo se expone la metodología seguida por la nueva norma RIAC-HDBK- 217Plus, elaborada por el RIAC (Reliability Information Analysis Center) para la predicción de fiabilidad de componentes, circuitos y sistemas electrónicos. Esta nueva norma, que está basada en la experiencia acumulada y publicada en mayo de 2006, pretende sustituir a la muy conocidad MILHDBK- 217F, cuya última actualización es de 1995.


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