Robustness test and failure analysis of IGBT modules during turn-off.

• Autores: Jesús Roberto Urresti Ibáñez, A. Castellazzi, M. Piton, J. Rebollo, M. Mermet-Guyennet, M. Ciappa
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1725-1729
• Idioma: inglés
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