A study of the threshold-voltage suitability as an application-related reliability indicator for planar-gate non-punch-through IGBTs.

• Autores: A. Castellazzi, M. Ciappa, W. Fichtner, M. Piton, M. Mermet-Guyennet
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1713-1718
• Idioma: inglés
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