Sequential environmental stresses tests qualification for automotive components.

• Autores: M.A. Bahi, P. Lecuyer, H. Frémont, J.-P. Landesman
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1680-1684
• Idioma: inglés
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