A new method to quantify retention-failed cells of an EEPROM CAST.

• Autores: C. Le Roux, L. Lopez, A. Firiti, J.L. Ogier, F. Lalande, R. Laffont, G. Micolau
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1609-1613
• Idioma: inglés
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