Active ESD protection circuit design against charged-device-model ESD event in CMOS integrated circuits.

• Autores: S.-H. Chen, M.-D. Ker
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1502-1505
• Idioma: inglés
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