Performance and reliability of SLS ELA polysilicon TFTs fabricated with novel crystallization techniques.

• Autores: D.C. Moschou, M.A. Exarchos, D.N. Kouvatsos, G.J. Papaioannou, A.T. Voutsas
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1378-1383
• Idioma: inglés
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