Virtual reliability assessment of integrated power switches based on multi-domain simulation approach.

• Autores: P. Solomalala, Joaquim Saiz Alcaine, M. Mermet-Guyennet, A. Castellazzi, M. Ciappa, X. Chauffleur, J.P. Fradin
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1343-1348
• Idioma: inglés
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