Correlation between localized strain and damage in shear-loaded Pb-free solders.

• M. A. Martin ^[1] ; J.G.A. Theeven ^[1] ; W.P. Vellinga ^[1] ; M.G.D. Geers ^[1]
  1. [1] Eindhoven University of Technology

     Eindhoven University of Technology

     Países Bajos

     
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1262-1272
• Idioma: inglés
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