Implementation of diode and bipolar triggered SCRs for CDM robust ESD protection in 90 nm CMOS ASICs.

• Autores: C.J. Brennan, S. Chang, M. Woo, K. Chatty, R. Gauthier
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1030-1035
• Idioma: inglés
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