RF ESD protection strategies: Codesign vs. low-C protection.

• Autores: W. Soldner, M. Streibl, U. Hodel, M. Tiebout, H. Gossner, D. Schmitt-Landsiedel, J.H. Chun, C. Ito, R.W. Dutton
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1008-1015
• Idioma: inglés
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