Performance and reliability improvement of flash device by a novel programming method.

• Autores: C.-H. Ho, K.-S. Chang-Liao, Y.-N. Huang, T.-K. Wang, T.C. Lu
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 6, 2007, págs. 967-971
• Idioma: inglés
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