Experimental observations of temperature-dependent flat band voltage transients on high-k dielectrics.

• Autores: Salvador Dueñas Carazo, Helena Castán Lanaspa, Héctor García, Luis A. Bailón Vega, Kaupo Kukli, T. Hatanpäpä, M. Ritala, M. Leskelä
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 653-656
• Idioma: inglés
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