Ionising radiation and electrical stress on nanocrystal memory cell array.

• Autores: A. Cester, A. Gasperin, N. Wrachien, A. Paccagnella, V. Ancarani, C. Gerardi
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 602-605
• Idioma: inglés
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