Electrical characterization and analysis techniques for the high-k era.

• Autores: C.D. Young, D. Heh, A. Neugroschel, R. Choi, B.H. Lee, G. Bersuker
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 479-488
• Idioma: inglés
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