Resumen de Aplicación del método de simulación secuencial directa para la evaluación de la incertidumbre local en modelos digitales de elevaciones

Jorge Delgado García, Amilcar Soares, José Luis Pérez García, Julia Carvalho

• español

  Se presenta una metodología de modelización para la generación de MDE basada en el método de simulación secuencial directa (SSD). La ventaja fundamental de este método geoestadístico es que tiene en cuenta y reproduce los patrones de variabilidad especial de los datos medidos sobre el terreno, en términos de conservación de los estadísticos básicos (histogramas, variogramas o covarianzas). Además permite generar un número ilimitado de posibles modelizaciones de la realidad que conserven las características de los datos experimentales. A partir de estos ¿modelos posibles¿ es posible introducir el concepto de ¿incertidumbre¿ derivada de los resultados de la modelización. Otra ventaja adicional radica en que evita los problemas del suavizado introducido por los métodos de estimación (triangulación, inversa distancias o krigeaje) que tienen su repercusión en los modelos derivados (pendientes, orientaciones, ¿) fundamentales en diversas aplicaciones.

• English

  This paper presents a method for evaluating local uncertainty due to the modelling process in a DEM generation. Local uncertainty is a basic aspect to determine the final quality of the DEM and it is crucial in order to establish the capabilities of use of the model. The proposed methodology is based in the use of geostatistical simulation procedure that provides ¿possible versions¿ of the reality from limited terrain information (XYZ terrain points). The simulated model generated by the geostatistical simulation procedure (direct sequential simulation) allows for obtaining the cdf of the elevation in each grid node. Using this cdfs it is possible to calculate the uncertainty of the DEMs (variance, interquartile range, entropy) through a simple probabilistic analysis and several realisations of DEM that preserves the statistical characteristics of the measured data (histogram, variogram,¿).