Se capturaron imágenes de la superficie de recubrimientos de nitruro de cromo (CrN), nitruro de niobio (NbN), nitruro de tantalio (TaN) y nitruro de circonio (ZrN), utilizando la técnica de mi-croscopía de barrido por sonda (SPM), en el modo de microscopía de fuerza atómica (AFM). Estas imágenes fueron tratadas utilizando técnicas de procesamiento de imágenes, aplicando el cálculo de la dimensión fractal para determinar la rugosidad. Los resultados de la rugosidad obtenidos a partir del cálculo de la dimensión fractal, fueron comparados con los valores determinados por técnicas clásicas.
Surface images of cromun nitride (CrN), niobium nitride (NbN), tantalium nitride (TaN), and zir-conium nitride (ZrN) coatings were captured, using the scanning probe microscopy (SPM) tech-nique in atomic force microscopy (AFM) mode. These images were treated applying image processing techniques, calculating the fractal dimension in order to determine roughness. The re-sults of the roughness obtained from determining fractal dimension, were compared with values getting by classic techniques.
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